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無(wú)損檢測(cè)方法選擇原則和缺陷檢測(cè)有效性

時(shí)間:2024-04-28    來(lái)源:    作者:儀多多     

在當(dāng)今快速發(fā)展的工業(yè)領(lǐng)域中,無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)成為確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全的重要工具。無(wú)損檢測(cè)(NDT)涉及各種方法和技術(shù),用于在不損害被檢查對(duì)象的情況下評(píng)估材料、組件或系統(tǒng)的屬性。

一、無(wú)損檢測(cè)方法選擇原則

1、每一種無(wú)損檢測(cè)方法均有其能力范圍和局限性,且應(yīng)保證足夠的實(shí)施操作空間

2、僅能檢測(cè)表面開(kāi)口缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括滲透檢測(cè)和目視檢測(cè)。滲透檢測(cè)主要用于非多孔性材料,目視檢測(cè)主要用于宏觀可見(jiàn)缺陷的檢測(cè)

3、能檢測(cè)表面開(kāi)口缺陷和近表面缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括磁粉檢測(cè)和渦流檢測(cè)。磁粉檢測(cè)主要用于鐵磁性材料,渦流檢測(cè)主要用于導(dǎo)電金屬材料;

4、可檢測(cè)材料中任何位置缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法包括射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)和X射線數(shù)字成像檢測(cè)。一般而言,超聲檢測(cè)、衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)對(duì)于表面開(kāi)口缺陷或近表面缺陷的檢測(cè)能力低于磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)或渦流檢測(cè)

5、為確定承壓設(shè)備內(nèi)部或表面存在的活性缺陷的強(qiáng)度和大致位置,可采用聲發(fā)射檢測(cè)。聲發(fā)射檢測(cè)需要對(duì)承壓設(shè)備進(jìn)行加壓試驗(yàn),發(fā)現(xiàn)活性缺陷時(shí)應(yīng)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行復(fù)驗(yàn);

6、僅能檢測(cè)承壓設(shè)備貫穿性缺陷或整體致密性的無(wú)損檢測(cè)方法為泄漏檢測(cè)

7、對(duì)于鐵磁性材料,為檢測(cè)表面或近表面缺陷,應(yīng)優(yōu)先采用磁粉檢測(cè)方法,確因結(jié)構(gòu)形狀等原因不能采用磁粉檢測(cè)時(shí)方可采用其他無(wú)損檢測(cè)方法;

8、當(dāng)采用一種無(wú)損檢測(cè)方法按不同檢測(cè)工藝進(jìn)行檢測(cè)時(shí),如果檢測(cè)結(jié)果不一致,應(yīng)以危險(xiǎn)度大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn);

9、當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)承壓設(shè)備的同一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí),應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別。

二、無(wú)損檢測(cè)方法的缺陷檢測(cè)有效性

1列出了各種無(wú)損檢測(cè)方法通常能檢測(cè)的一般缺陷,應(yīng)看作一般的指導(dǎo),而不是在一種特定應(yīng)用中對(duì)某種無(wú)損檢測(cè)方法的要求和禁用。

對(duì)于使用產(chǎn)生的缺陷,檢測(cè)部位的可接近性和條件也是考慮采用某種無(wú)損檢測(cè)方法的重要因素。

另外,表1未包含所有的無(wú)損檢測(cè)方法,使用者在一種特定的應(yīng)用中選擇無(wú)損檢測(cè)方法時(shí),必須考慮所有相關(guān)的條件。

1 缺陷與無(wú)損檢測(cè)方法對(duì)照表


表面
1】

近表面
2】

所有位置
3】

VT

PT

MT

ET

RT

DR

UTA

UTS

TOFD

使用產(chǎn)生的缺陷

點(diǎn)狀腐蝕




局部腐蝕







宏觀裂紋


微裂紋









焊接產(chǎn)生的缺陷

燒穿





裂紋

夾渣



未熔合


未焊透

焊瘤


氣孔


咬邊


產(chǎn)品成型產(chǎn)生的缺陷

迸裂
(鍛件)


冷夾
(鑄件)


裂紋
(所有產(chǎn)品成型)


熱裂


(鑄件)

夾雜
(所有產(chǎn)品成型)




夾層
(板材、管材)





重皮(鍛件)



氣孔(鑄件)




裂縫(板材、管材)



上表說(shuō)明:

1、字母說(shuō)明:

VT-目視檢測(cè)PT-滲透檢測(cè);MT-磁粉檢測(cè);ET-渦流檢測(cè)RT-射線檢測(cè);DR-X 射線數(shù)字成像檢測(cè);UTA-超聲檢測(cè)(斜入射);UTS-超聲檢測(cè)(直入射);AE-聲發(fā)射檢測(cè);TOFD-衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)。

2、符號(hào)含義:

●— 在通常情況下,按相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的無(wú)損檢測(cè)方法和技術(shù)都能檢測(cè)這種缺陷。

◎— 在某種條件下,按相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的特定的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)將能檢測(cè)這種缺陷。

○— 檢測(cè)這種缺陷要求專(zhuān)用技術(shù)和條件。

注:

1】-僅能檢測(cè)表面開(kāi)口缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法。

2】-能檢測(cè)表面開(kāi)口和近表面缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法。

3】-可檢測(cè)被檢工件中任何位置缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法。




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