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超聲波測(cè)厚儀常見(jiàn)問(wèn)題解決 測(cè)厚儀常見(jiàn)問(wèn)題解決方法

時(shí)間:2020-08-13    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     

    超聲波測(cè)厚儀常見(jiàn)問(wèn)題解決測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆等復(fù)蓋物。過(guò)份粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差,甚至儀器無(wú)讀數(shù)。測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑,可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。測(cè)量圓柱型材料,如管子、油桶等,選擇探頭軸線與被測(cè)材料軸線相交時(shí)為較好情況。簡(jiǎn)單地說(shuō),將探頭與被測(cè)材料耦合,然后圍繞被測(cè)物軸線轉(zhuǎn)動(dòng)探頭或者垂直于被測(cè)物軸線平行移動(dòng)探頭,使探頭延遲塊的中線與被測(cè)物接觸,選擇穩(wěn)定的讀數(shù),作為材料的準(zhǔn)確厚度。對(duì)于不同直徑的被測(cè)物選用不同的延遲塊對(duì)測(cè)量會(huì)有幫助的??梢栽诒粶y(cè)物表面蒙上一塊細(xì)砂紙,然后前后移動(dòng)探頭,會(huì)很容易就把在探頭延遲塊前端磨出圓弧。為了得到一個(gè)令人滿(mǎn)意的超聲響應(yīng),被測(cè)材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸,否則將引起測(cè)量誤差或根本無(wú)讀數(shù)顯示。材料的厚度與超聲波傳播速度均受溫度的影響,若對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí),可采用試塊對(duì)比法,即用相同材料的試塊在相同溫度條件進(jìn)行測(cè)量,并求得溫度補(bǔ)償系數(shù),用此系數(shù)修正被測(cè)工件的實(shí)測(cè)值。對(duì)于一些如纖維、多孔、粗粒子材料,它們會(huì)造成超聲波的大量散射和能量衰減,以致出現(xiàn)反常的讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù),在這種情況下,則說(shuō)明該材料不適于用此測(cè)厚儀測(cè)試。對(duì)不同材料在不同條件下進(jìn)行精確測(cè)量,校準(zhǔn)試塊的材料越接近于被測(cè)材料,測(cè)量就越精確。理想的參考試塊將是一組被測(cè)材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補(bǔ)償校正因素。為了滿(mǎn)足最大精度測(cè)量的要求,一套參考試塊將是很重要的。在大部分情況下,只要使用一個(gè)參考試塊就能得到令人滿(mǎn)意的測(cè)量精度,這個(gè)試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同的材質(zhì)和相近的厚度。取均勻被測(cè)材料用千分尺測(cè)量后就能作為一個(gè)試塊。對(duì)于薄材料,在它的厚度接近于探頭測(cè)量下限時(shí),可用試塊來(lái)確定準(zhǔn)確的低限。不要測(cè)量低于下限厚度的材料。如果一個(gè)厚度范圍是可以估計(jì)的,那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。當(dāng)被測(cè)材料較厚時(shí),特別是內(nèi)部結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的合金等,應(yīng)在一組試塊中選擇一個(gè)接近被測(cè)材料的,以便于掌握校準(zhǔn)。大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性,在不同的方向上,聲速將會(huì)有少量變化,為了解決這個(gè)問(wèn)題,試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu),聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測(cè)材料中的方向相同。在一定情況下,查已知材料的聲速表,可代替參考試塊,但這只是近似地代替一些參考試塊,在一些情況下,聲速表中的數(shù)值與實(shí)際測(cè)量有別,這是因?yàn)椴牧系奈锢砑盎瘜W(xué)情況有異。這種方法常被用來(lái)測(cè)低碳鋼,但只能作為粗略測(cè)量。

超聲波測(cè)厚儀的測(cè)量方法常用有一般測(cè)量方法、精確測(cè)量法、連續(xù)測(cè)量法、網(wǎng)格測(cè)量法等四種。

  1、一般測(cè)量方法:

  (1)在一點(diǎn)處用探頭進(jìn)行兩次測(cè)厚,在兩次測(cè)量中探頭的分割面要互為90°,取較小值為被測(cè)工件厚度值。

  (2)30mm多點(diǎn)測(cè)量法:當(dāng)測(cè)量值不穩(wěn)定時(shí),以一個(gè)測(cè)定點(diǎn)為中心,在直徑約為30mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,取最小值為被測(cè)工件厚度值。

  2、精確測(cè)量法:在規(guī)定的測(cè)量點(diǎn)周?chē)黾訙y(cè)量數(shù)目,厚度變化用等厚線表示。

  3、連續(xù)測(cè)量法:用單點(diǎn)測(cè)量法沿指定路線連續(xù)測(cè)量,間隔不大于5mm。

  4、網(wǎng)格測(cè)量法:在指定區(qū)域劃上網(wǎng)格,按點(diǎn)測(cè)厚記錄。此方法在高壓設(shè)備、不銹鋼襯里腐蝕監(jiān)測(cè)中廣泛使用。

鋁上的陽(yáng)極氧化層用哪款涂層測(cè)厚儀測(cè)試好

鋁上的陽(yáng)極氧化層用哪款涂層測(cè)厚儀測(cè)試好?FMP40涂層測(cè)厚儀來(lái)幫助您。珠海天創(chuàng)儀器是一家專(zhuān)業(yè)代理涂層測(cè)厚儀的專(zhuān)業(yè)公司。
 FMP40涂層測(cè)厚儀德國(guó)菲希爾*新推出的一款分體式探頭涂層測(cè)厚儀,儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度.根據(jù)測(cè)量量程不同,有FMP20,FMP40兩款型號(hào)可選擇。

 

FMP40涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

 

DUALSCOPE®
FMP20

DUALSCOPE®
FMP40

非鐵金屬上的油漆、陽(yáng)極氧化層、瓷漆或塑料涂層

鋁上的陽(yáng)極氧化層

鋼或鐵上的儀器、 瓷漆或塑料涂層

鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層

數(shù)據(jù)儲(chǔ)存

統(tǒng)計(jì)計(jì)算

打印口/RS232 接口

可更換插入式智慧型探頭

集成恒壓探頭

  

測(cè)量范圍(μm) [mils]

ED10雙功能探頭測(cè)量參數(shù):磁感應(yīng):測(cè)量范圍:0~1500μΜ(0~60 mils)測(cè)量精度:0~50  μΜ:0.2 μΜ  50~1500μΜ:  1 %。渦流:測(cè)量范圍:0~1200μΜ(0~48 mils)測(cè)量精度:0~100 μΜ:0.5 μΜ,100~1200μΜ:  0.5  %

電源

電池

交流電或電池

重量[g]

230

230

規(guī)格 (高 x 寬x 深 mm)

160 x 80 x 30

160 x 80 x 30

 

DUALSCOPE®
FMP20

DUALSCOPE®
FMP40

非鐵金屬上的油漆、陽(yáng)極氧化層、瓷漆或塑料涂層

鋁上的陽(yáng)極氧化層

鋼或鐵上的儀器、 瓷漆或塑料涂層

鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層

數(shù)據(jù)儲(chǔ)存

統(tǒng)計(jì)計(jì)算

打印口/RS232 接口

可更換插入式智慧型探頭

集成恒壓探頭

  

測(cè)量范圍(μm) [mils]

ED10雙功能探頭測(cè)量參數(shù):磁感應(yīng):測(cè)量范圍:0~1500μΜ(0~60 mils)測(cè)量精度:0~50  μΜ:0.2 μΜ  50~1500μΜ:  1 %。渦流:測(cè)量范圍:0~1200μΜ(0~48 mils)測(cè)量精度:0~100 μΜ:0.5 μΜ,100~1200μΜ:  0.5  %

電源

電池

交流電或電池

重量[g]

230

230

規(guī)格 (高 x 寬x 深 mm)

160 x 80 x 30

160 x 80 x 30

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一門(mén)理論上綜合性較強(qiáng),滄州歐譜又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。

  在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類(lèi)材料的保護(hù)或裝飾作用,通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法,這樣,便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念,我們稱(chēng)之為“覆層”。覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶(hù)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)必備的重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。

  目前,國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度,覆層無(wú)損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。

  有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)方法,主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,系有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍小。因有放射源,故使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法,隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微處理機(jī)技術(shù)后,測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm,精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用廣泛的儀器。采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。我金碩特公司現(xiàn)對(duì)以下分別介紹幾種常規(guī)測(cè)厚的方法分別介紹。

  磁性測(cè)量原理

  一、磁吸力原理鍍層測(cè)厚儀利用泳久磁鐵測(cè)頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測(cè)量覆層的厚度,這個(gè)距離就是覆層的厚度,所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可以進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。滄州歐譜測(cè)量?jī)x基本結(jié)構(gòu)是磁鋼,拉簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)。當(dāng)磁鋼與被測(cè)物吸合后,有一個(gè)彈簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大,當(dāng)拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來(lái)講,依不同的型號(hào)又不同的量程與適應(yīng)場(chǎng)合。在一個(gè)約350o角度內(nèi)可用刻度表示0~100μm;0~1000μm;0~5mm等的覆層厚度,精度可達(dá)5%以上,能滿(mǎn)足工業(yè)應(yīng)用的一般要求。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、強(qiáng)固耐用、不用電源和測(cè)量前的校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車(chē)間作現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。

  二、磁感應(yīng)原理測(cè)厚儀磁感應(yīng)原理是利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來(lái)測(cè)定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。由于是電子儀器,校準(zhǔn)容易,可以實(shí)多種功能,擴(kuò)大量程,提高精度,由于測(cè)試條件可降低許多,故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)物上后,儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流,磁通的大小影響到感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示,精度和重復(fù)性都不好,后來(lái)發(fā)展了數(shù)字顯示式,電路設(shè)計(jì)也日趨完善。

  近年來(lái)引入微處理機(jī)技術(shù)及電子開(kāi)關(guān),穩(wěn)頻等新技術(shù),多種獲磚利的產(chǎn)品相繼問(wèn)世,精度有了很大的提高,達(dá)到1%,分辨率達(dá)到0.1μm,磁感應(yīng)測(cè)厚儀的測(cè)頭多采用軟鋼做導(dǎo)磁鐵芯,線圈電流的頻率不高,以降低渦流效應(yīng)的影響,測(cè)頭具有溫度補(bǔ)償功能。由于儀器已智能化,可以辨識(shí)不同的測(cè)頭,配合不同的軟件及自動(dòng)改變測(cè)頭電流和頻率。一臺(tái)儀器能配合多種測(cè)頭,也可以用同一臺(tái)儀器??梢哉f(shuō),適用于工業(yè)生產(chǎn)及科學(xué)研究的儀器已達(dá)到了了非常實(shí)用化的階段。利用電磁原理研制的測(cè)厚儀,原則上適用所有非導(dǎo)磁覆層測(cè)量,一般要求基本的磁導(dǎo)率達(dá)500以上。覆層材料如也是磁性的,則要求與基材的磁導(dǎo)率有足夠大的差距(如鋼上鍍鎳層)。磁性原理測(cè)厚儀可以應(yīng)用在測(cè)量鋼鐵表面的油漆涂層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。對(duì)于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產(chǎn)工業(yè),利用測(cè)量平臺(tái)或輥(鋼鐵制造)也可用來(lái)實(shí)現(xiàn)大面積上任一點(diǎn)的測(cè)量。電渦流測(cè)量原理電渦流測(cè)厚法主要應(yīng)用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測(cè)量。利用高頻交流電在作為探頭的線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),將探頭靠近導(dǎo)電的金屬體時(shí),就在金屬材料中形成渦流,且隨與金屬體的距離減小而增大,該渦流會(huì)影響探頭線圈的磁通,故此反饋?zhàn)饔昧渴潜硎咎筋^與基體金屬之間間距大小的一個(gè)量值,因?yàn)樵摐y(cè)頭用在非鐵磁金屬基體上測(cè)量覆層厚度,所以通常我們稱(chēng)該測(cè)頭為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭一般采用高頻高導(dǎo)磁材料做線圈鐵芯,常用鉑鎳合金及其它新材料制作。與磁性測(cè)量原理比較,他們的電原理基本一樣,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,測(cè)試電流的頻率大小不同,信號(hào)大小、標(biāo)度關(guān)系不同。在新的測(cè)厚儀中,通過(guò)不斷改進(jìn)測(cè)頭結(jié)構(gòu),在配合微電腦技術(shù),由自動(dòng)識(shí)別不同測(cè)頭來(lái)調(diào)用不同的控制程序,分別輸出不同的測(cè)試電流和改變標(biāo)度變換軟件,終于使兩種不同類(lèi)型的的測(cè)頭接與同一臺(tái)測(cè)厚儀上,降低了用戶(hù)負(fù)擔(dān),基于同一思想,可配接達(dá)10種側(cè)頭的測(cè)厚儀極大地?cái)U(kuò)展了測(cè)厚范圍(達(dá)10萬(wàn)倍以上),可測(cè)包括導(dǎo)磁材料表面上的非導(dǎo)磁覆層,導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電覆層及不導(dǎo)電材料上的導(dǎo)電層,基本上滿(mǎn)足了工業(yè)生產(chǎn)多數(shù)行業(yè)的需要。

  采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其他鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可以測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3~5倍以上(如銅上鍍鉻)。校準(zhǔn)的原則是沒(méi)有覆層的校準(zhǔn)試樣與被測(cè)物的基材應(yīng)有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的小值約0.5mm以下時(shí)),便攜式硬度計(jì)有相同的曲率半徑,如被測(cè)面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求(直徑約20mm以下),還應(yīng)有相同的被測(cè)面積。如覆層含有導(dǎo)電成份,校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測(cè)物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過(guò)其它(包括有損測(cè)試方法)測(cè)試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層,就可以在其上面按說(shuō)明書(shū)的方法校準(zhǔn)測(cè)厚儀。校準(zhǔn)后就可以在被測(cè)產(chǎn)品上進(jìn)行快速無(wú)損檢測(cè)。校準(zhǔn)薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹(shù)脂浸漬過(guò)的硬紙。微電腦測(cè)厚一般有多個(gè)校準(zhǔn)值存貯。隨著被測(cè)產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測(cè)頭等均可分別校準(zhǔn)并存貯。實(shí)際使用時(shí)直接調(diào)用各校準(zhǔn)值,就無(wú)須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準(zhǔn)”。大大提高了檢測(cè)效率。測(cè)試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)供分析,還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設(shè)置了上下極限還可以使統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確,測(cè)量時(shí)所有超限的點(diǎn)都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計(jì)計(jì)算用。

  影響測(cè)量值的因素與解決方法

  使用鍍層測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測(cè)試條件。滄州歐譜使用磁性原理和渦流原理的鍍層測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測(cè)量覆層厚度的,所以,被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性,下面就這方面的問(wèn)題作一下介紹。

  1.邊界間距如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測(cè)量。(注:新的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)3~10%的精度)

  2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?;騾⒄障聴l。

  3.基體金屬小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的小厚度,使探頭的電磁場(chǎng)能完全包容在基體金屬中,小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過(guò)調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的測(cè)厚儀,如前所述。

  4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見(jiàn),不論是基體或是覆層,越粗糙,測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。

  5.探頭測(cè)量板的作用力探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測(cè)量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?/span>

  6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

  7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)試樣。

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