數(shù)顯式鐵離子分析儀是供火力發(fā)電廠(chǎng)、核發(fā)電廠(chǎng)、石油、化工等相關(guān)行業(yè)對(duì)其鍋爐給水、蒸汽、凝結(jié)水、水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)冷卻水和爐水中的鐵離子濃度測(cè)定的必備儀表。
測(cè)定依據(jù)GB/T14427-93“鍋爐用水和冷卻水分析方法——鐵的測(cè)定”,即采用1,10-菲羅啉光度法。本系列儀器具有不工作時(shí)的待機(jī)功能,對(duì)光源采取了有效的保護(hù),可以連續(xù)的運(yùn)行在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境。檢測(cè)元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具極佳的保證。
參數(shù)
測(cè)量范圍 0?~199.9μg/L Fe
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移
(30分鐘) ≤±0.5%FS
長(zhǎng)期漂移
(24小時(shí)) ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 1,1.0-菲羅啉光度法
GB/T 14427— 93
電源/功率 220V/40W
外型尺寸 長(zhǎng)×寬×高:430×415×160(mm)
重量 10kg
防水便攜數(shù)顯鐵離子測(cè)定儀之所以要監(jiān)測(cè)水中鐵的濃度,是因?yàn)殍F超過(guò)一定含最后是非常有害的。
例如,鐵可以改變飲用水的味道產(chǎn)生怪味,使洗衣房的衣服沾上污點(diǎn),損壞廚房設(shè)備且有助于某些細(xì)菌的生長(zhǎng)。鐵也作為工廠(chǎng)或水加熱/冷卻系統(tǒng)腐蝕情況的指標(biāo)。此外監(jiān)測(cè)采礦廢水中鐵的濃度,可避免污染。
防水便攜數(shù)顯鐵離子測(cè)定儀性能特點(diǎn)
優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),人性化確認(rèn)操作,保證儀器的良好校準(zhǔn);
雙行易讀LCD顯示屏,人性化顯示界面,操作簡(jiǎn)單、快捷;
*功能,試劑與樣品反應(yīng)時(shí)間-致性,確保測(cè)量精確度;
操作簡(jiǎn)單,定期內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)標(biāo)定功能,確保儀器性能*** ;
出廠(chǎng)前內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)標(biāo)定,具有CAL CHECK性能核查功能,GLP功能,隨時(shí)更新、查閱標(biāo)定數(shù)據(jù)、日期、標(biāo)準(zhǔn)等信息;
高精度測(cè)量結(jié)果,光源防塵測(cè)量系統(tǒng),自動(dòng)關(guān)機(jī)節(jié)電模式
優(yōu)良防水性能,適用于實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)快速樣品分析測(cè)量。
性能核查功能
儀器在使用一-段時(shí)間后,儀器光學(xué)系統(tǒng)將會(huì)衰減,造成內(nèi)部設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)會(huì)出現(xiàn)漂移,影響測(cè)量數(shù)據(jù)可靠性和準(zhǔn)確性。
獨(dú)有CAL CHECKTM性能核查功能,鐵NIST測(cè)量曲線(xiàn)標(biāo)定組可定期(頻繁使用,1-3個(gè)月標(biāo)定一次,常規(guī)情況下,半年標(biāo)定- -次 )儀器內(nèi)部曲線(xiàn)進(jìn)行標(biāo)定和校正,修訂內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)漂移,確保測(cè)量數(shù)據(jù)正確可靠。
合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素, 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線(xiàn)的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線(xiàn)的密度來(lái)確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。
每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運(yùn)行在核子周?chē)能壍郎?。而且其電子的?shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。
從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱(chēng)。
能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了*里層三個(gè)電子軌道即K,L,M上的活動(dòng)情況,其中K軌道*為接近核子,每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。
在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線(xiàn)光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。
這時(shí),原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中,它們會(huì)釋放出能量,稱(chēng)之為二次X射線(xiàn)光子。
而整個(gè)過(guò)程則稱(chēng)為螢光輻射。每種元素的二次射線(xiàn)都各有特征。而X射線(xiàn)光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。
特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來(lái)的X射線(xiàn)的數(shù)量或者密度,能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。