磁性涂層測厚儀是較新研發(fā)的新產(chǎn)品，是一種小型便攜式儀器，磁性測厚儀也稱涂層測厚儀、鍍層測厚儀、涂鍍層測厚儀，在具體實施測量時的影響因素主要有如下21條。
1、基體金屬磁性變化。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對儀器進(jìn)行校對。
2、測量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超過厚度測量就不受基體厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)，在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不的，校對試片盡量在試片中間以減少誤差。
4、測量件曲率，試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5、被測物體表面粗糙度，基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。
6、磁場，被測物體周圍磁場會干擾磁性測量，影響涂層測厚儀精度。
7、附著物質(zhì)，本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
8、測量過程中探頭的放置，探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。這是涂層測厚儀(其他測厚儀，如超聲波測厚儀也是這樣)測量中要注意的問題。
9、試片的變形及試片本身的誤差，探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會出現(xiàn)一定的誤差。
10、測量次數(shù)，對于數(shù)據(jù)要求經(jīng)度比較高的測量要實行多次測量求平均值，精度要求更高的可以多臺儀器測量求平均值。
11、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對涂層測厚儀進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
12、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對涂層測厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。
13、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表
14、邊緣效應(yīng)
涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
15、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
16、試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
17、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
18、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
19、附著物質(zhì)
涂層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
20、測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
21、測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。涂層測厚儀在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
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