涂層測厚儀如何使用才可避免降低誤差
在運(yùn)用涂層測厚儀測量時(shí)盡量運(yùn)用被測材質(zhì)來作為調(diào)零的基體，以防止因?yàn)椴煌牟馁|(zhì)而致使導(dǎo)磁性不同，而呈現(xiàn)測量誤差。等到在被測材質(zhì)的同一部位調(diào)零以后，再實(shí)行一樣部位的測量，如在側(cè)臉工件邊緣及中間部分時(shí)當(dāng)分別調(diào)零。
在應(yīng)用涂層測厚儀實(shí)行測量時(shí)還該當(dāng)注意探頭和被測料面維持垂直，以免發(fā)生大的誤差。若是測量的同一個(gè)點(diǎn)，可將探頭每次都離開10公分以上，間隔幾秒后再實(shí)行測量，以免被測材質(zhì)探頭磁化而影響測量結(jié)果。
涂層測厚儀作為調(diào)零用的外表面須要盡量維持光滑，假如外表面不光滑，該當(dāng)視狀況取平均值，由于外表面粗糙度對(duì)測量的數(shù)值影響較大。構(gòu)造不同應(yīng)分別實(shí)行調(diào)零測量，平面調(diào)零側(cè)臉平面，測量凹面調(diào)零后測量，測量凸面調(diào)零后實(shí)行測量，防止因?yàn)闃?gòu)造不同而在測量上發(fā)生誤差。
1.超薄材料
使用任何超聲波測厚儀，當(dāng)被測材料的厚度降到探頭使用下限以下時(shí)，將導(dǎo)致測量誤差，必要時(shí)，最小極限厚度可用試塊比較法測得。當(dāng)測量超薄材料時(shí)，有時(shí)會(huì)發(fā)生一種稱為“雙重折射”的錯(cuò)誤結(jié)果，它的結(jié)果為顯示讀數(shù)是實(shí)際厚度的二倍，另一種錯(cuò)誤結(jié)果被稱為“脈沖包絡(luò)、循環(huán)跳躍”，它的結(jié)果是測得值大于實(shí)際厚度，為防止這類誤差，測臨界探頭使用下限的材料時(shí)應(yīng)重復(fù)測量核對(duì)。
2.銹斑、腐蝕凹坑等
被測材料另一表面的銹斑凹坑等將引起讀數(shù)無規(guī)則地變化，在極端情況下甚至無讀數(shù)，很小的銹點(diǎn)有時(shí)是很難發(fā)現(xiàn)的。當(dāng)發(fā)現(xiàn)凹坑或感到懷疑時(shí)，這個(gè)區(qū)域的測量就得十分小心，可選擇探頭串音隔層板不同角度的定位來作多次測試。
3.探頭的磨損
探頭表面為丙烯樹脂，長期使用會(huì)使粗糙度增高，導(dǎo)致靈敏度下降，用戶在可以確定為此原因造成誤差的情況下，可用砂紙或油石少量打磨探頭表面使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定，則需更換探頭。
4.“ZERO”鍵的使用
此鍵只能用于將探頭耦合在儀器面板上的標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行校準(zhǔn)，而不得在其它任何試塊上使用此鍵，否則將引起測量錯(cuò)誤。
5.層迭材料、復(fù)合材料
要測量未經(jīng)耦合的層迭材料是不可能的，因超聲波無法穿透未經(jīng)耦合的空間。又因超聲波不能在復(fù)合材料中以勻速傳播，所以用超聲反射原理測量厚度的儀器均不適于測量層迭材料和復(fù)合材料。
6.反常的厚度讀數(shù)
操作者應(yīng)具備辨別反常讀數(shù)的能力，通常銹斑、腐蝕凹坑、被測材料內(nèi)部缺陷都將引起反常讀數(shù)。解決辦法可參考第6、7條。必要時(shí)可用超聲波探傷儀做更仔細(xì)的檢查。
7.耦合劑的使用和選擇
耦合劑是用來作為探頭與被測材料之間的高頻超聲能量傳遞的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)將有可能造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍，無法測值。耦合劑應(yīng)適量使用，涂抹均勻。選擇合適種類的耦合劑是重要的，當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí)，低粘度的耦合劑(如隨機(jī)配置的耦合劑、清機(jī)油等)是很合適的。當(dāng)使用在粗糙材料表面、或垂直表面及頂面時(shí)，可使用粘度較高的耦合劑(如甘油膏、黃油、潤滑脂等)。
數(shù)顯磁性測厚儀測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。
專用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。
數(shù)顯磁性測厚儀參數(shù)：
測量范圍：O-200μm。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74。
測量精度：±（0.7μm3%H）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。
測厚儀原理分類：
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
點(diǎn)接觸式測厚儀
面接觸時(shí)測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同，又可分為以下幾種：
激光測厚儀
超聲波測厚儀
涂層測厚儀
X射線測厚儀
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
測厚儀應(yīng)用：
薄膜測厚儀：
用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
涂層測厚儀：
用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
超聲波測厚儀：
超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí);
脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。
它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。
它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。
主要應(yīng)用行業(yè)：
有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
紙張測厚儀：
適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
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