超聲波測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)為什么一定要用耦合劑
超聲波測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)為什么一定要用耦合劑？超聲波在遇到空氣時(shí)會(huì)急劇衰減掉，為了讓排出掉超聲波探頭和工件之間的空氣，采用超聲波耦合劑去除。通常在工廠測(cè)量比較光滑的工件表面采用一般機(jī)油或其他無(wú)腐蝕的液體即可，比較粗糙的表面可采用比較粘稠的黃油，測(cè)量完畢一定要把探頭表面以及標(biāo)準(zhǔn)塊表面耦合劑擦除掉。
超聲波測(cè)厚儀檢測(cè)厚度的方法有共振法、干涉法、脈沖回波法等。無(wú)損檢測(cè)資源網(wǎng)現(xiàn)在主要采用脈沖回波法檢測(cè)厚度的工作原理。
超聲波探頭與被測(cè)物體表面接觸。主控制器控制發(fā)射電路，使探頭發(fā)出的超聲波到達(dá)被測(cè)物體底面反射回來(lái)，該脈沖信號(hào)又被探頭接收，經(jīng)放大器放大加到示波器垂直偏轉(zhuǎn)板上。標(biāo)記發(fā)生器輸出時(shí)間標(biāo)記脈沖信號(hào)，同時(shí)加到該垂直偏轉(zhuǎn)板上。而掃描電壓則加在水平偏轉(zhuǎn)板上。因此，在示波器上可直接讀出發(fā)射與接收超聲波之間的時(shí)間間隔t。被測(cè)物體的厚度h為：h=ct/2，式中c為超聲波的傳播速度。
鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
1.影響因素的有關(guān)說(shuō)明
a、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。、濕度傳感器探頭、,、,、不銹鋼電熱管、PT100、傳感器、,、,、鑄鋁加熱器、,、加熱圈、、、流體電磁閥
c、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
d、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g、磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i、測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
2.使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
a、基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b、基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c、邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d、曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e、讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f、表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)
無(wú)損檢測(cè)之涂鍍層測(cè)厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。
引起這些故障的原因有來(lái)自儀器本身的也有來(lái)自被測(cè)工件的，還有就是來(lái)自自然環(huán)境的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。
涂鍍層測(cè)厚儀的故障排除方法
1、示值顯示不穩(wěn)定。
導(dǎo)致涂鍍測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來(lái)自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測(cè)厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍層測(cè)厚儀，還有工件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不溫度的原因，工件表面粗糙度過(guò)大、表面附著物太多。
排除故障的要點(diǎn)就是要將粗糙度比較大的工件打磨平整，出去附著物即可，再有就是選擇適合的涂鍍層測(cè)厚儀。
2、測(cè)量結(jié)果誤差太多
引起涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量誤差大的原因我們?cè)谝郧暗奈恼轮幸呀?jīng)介紹很清楚了，這里我們?cè)诤?jiǎn)單介紹一下引起測(cè)量誤差較大的原因主要有：
基體金屬磁化、基體金屬厚度過(guò)小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過(guò)小、表面粗糙度過(guò)大、磁場(chǎng)干擾探頭的放置方法等。
3、不顯示數(shù)字
造成涂鍍層測(cè)厚儀不顯示數(shù)字的較為簡(jiǎn)單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量還是不顯示數(shù)值。
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