涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。那么，涂層測(cè)厚儀常見(jiàn)的故障有哪些？我們又該如何解決呢？下面為大家總結(jié)了以下幾點(diǎn)：
1、儀器丈量不準(zhǔn)
①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器，標(biāo)定，使之契合誤差范圍。誤差遵照≦3%(厚度值），如需測(cè)試愈加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的潤(rùn)滑裸基上（未涂裝的基體上）停止系統(tǒng)校準(zhǔn)。
?、谡?qǐng)檢查探頭前端能否磨損，能否變形，有附著物質(zhì)等，探頭外護(hù)套能否不在程度等,變形可恰當(dāng)用砂紙打磨修正，處置潔凈、
?、郾粶y(cè)件基材外表粗糙度影響，惹起系統(tǒng)誤差和偶爾誤差，丈量時(shí)在不同位置增加丈量次數(shù)，克制偶爾誤差?；蛴蒙凹埓蚰セ闹匦滦Ｕ齼x器零點(diǎn)。
?、苷闪渴址ㄒ约疤筋^的放置，測(cè)試的時(shí)分需堅(jiān)持探頭與試樣垂直
⑤被測(cè)件曲度，在該探頭所順應(yīng)的曲率半徑下，重新校準(zhǔn)。特別管道凸面，留意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置。
2、儀器不開(kāi)機(jī)
?、僬?qǐng)檢查確認(rèn)電池能否有電，或改換新的電池。
②請(qǐng)檢查電池能否接觸良好，且電極片沒(méi)有氧化或生銹等（如生銹可用工具刮掉氧化層）、
?、壅?qǐng)檢查按鍵能否按壓到位，且按鍵正常有彈性。
?、芷渌鳈C(jī)線路毛病，咨詢公司售后效勞或返廠檢修、
3、丈量無(wú)數(shù)據(jù)變化
?、偬筋^能否銜接良好探頭能否損壞等
?、谙嚓P(guān)主機(jī)線路毛病、
4、儀器無(wú)法丈量
①檢查探頭能否銜接良好，插到位、
?、跈z查探頭線能否有斷的中央，重點(diǎn)檢查探頭接插件處（接頭處能夠旋鈕擰開(kāi)查看）
③探頭頻繁大量運(yùn)用，傳感器老化或損壞，燙傷等
?、芷渌鳈C(jī)線路元件毛病
鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
1.影響因素的有關(guān)說(shuō)明
a、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。、濕度傳感器探頭、,、,、不銹鋼電熱管、PT100、傳感器、,、,、鑄鋁加熱器、,、加熱圈、、、流體電磁閥
c、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
d、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g、磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i、測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
2.使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
a、基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b、基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c、邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d、曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e、讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f、表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)
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