鍍鋅層測(cè)厚儀是是用電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器，采用電渦流原理。測(cè)量辦法合乎國內(nèi)規(guī)范ISO2360和 gou家規(guī)范GB4957。 它采用計(jì)算機(jī)技術(shù)，無損檢測(cè)技術(shù)等多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)，無需損傷被測(cè)體就能jing確地測(cè)量出它的厚度。Nf型探頭可測(cè)量非導(dǎo)磁金屬基體上的絕緣籠罩層厚度，如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等資料外表上的油漆、塑料、橡膠涂層，也可測(cè)量鋁或 鋁合金資料的陽極氧化層厚度。本儀器寬泛利用于制作業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)畛域；是資料愛護(hù)業(yè)余必備的儀器，是測(cè)量非導(dǎo)磁資料上絕緣籠罩層的厚度。
鍍鋅層測(cè)厚儀校準(zhǔn)辦法：
1、按住開關(guān)機(jī)鍵不松手直到顯示器呈現(xiàn)”CAL”(此進(jìn)程大約須要4秒鐘),顯示器會(huì)顯示”F:H”,此時(shí)輕按校零鍵確認(rèn)(探頭一定要懸空)
2、按住開關(guān)機(jī)鍵不松手直到顯示器呈現(xiàn)”Ln” (此進(jìn)程大約須要9秒鐘)顯示器會(huì)呈現(xiàn)”0.8XX”的數(shù)字,假如在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)高端數(shù)據(jù)偏大,也就是說127um正確,而420um左右的膜片偏大,可將該數(shù)字加大(用”+”鍵),反之將該數(shù)字減小(用”-“鍵).大約該數(shù)字每加大0.001,420um左右會(huì)相應(yīng)減小2um.而后按校零鍵確認(rèn). (探頭一定要懸空)
3、無論是操作一步和第二步完結(jié)后,均應(yīng)在操作完結(jié)后從新校零.
注意傳感器插頭的辦法.開機(jī)后將探頭壓到鐵基上,輕按校零鍵.將規(guī)范膜片(127um左右)放到鐵基上,如測(cè)量后果不在127um左右,可經(jīng)過加減鍵調(diào)整.127um左右膜片調(diào)整后,別離測(cè)量52um和420um左右的膜片,看能否在允許誤差范疇內(nèi).假如發(fā)現(xiàn)一切膜片值根本正確,則校準(zhǔn)勝利.
以上是介紹鍍鋅層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法，希望本文對(duì)大家有幫助！
德國菲希爾涂層測(cè)厚儀測(cè)量不準(zhǔn)確因素有哪些
主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。
(1)人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。
(2)在系統(tǒng)矯正時(shí)沒有選擇合適的基體?；wzui小平面為7mm，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
(3)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
(4)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)矯正時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
(5)儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
即使相同的涂層測(cè)厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別，這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。
使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說明書，不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同，因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說明書，避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。
注意金屬基體材質(zhì)：
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同，因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
注意檢測(cè)試件形狀：
在實(shí)際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠，實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時(shí)考慮了最小曲率半徑，測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。
以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮最小曲率半徑、最小測(cè)量面積、最小基體厚度的原因。
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