涂層測厚儀也叫覆層測厚儀，是一種用于測量金屬底材涂層厚度的專用儀器。

    1、附著物質(zhì)的影響

    儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

    2、強(qiáng)磁場的干擾

    當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

    3、人為因素

    涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量csgia.net發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。所以建議用戶朋友初次使用儀器時(shí)，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。

    4、在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體。

    基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

    5、儀器發(fā)生故障。

    此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

    無損檢測技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng)，它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。

    在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法；

    這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。

    覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測必備的重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。

    目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的國際標(biāo)準(zhǔn)測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。

    有關(guān)覆層無損檢測方法，主要有：

    楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。

    這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

    X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍小。

    因有放射源，故使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。

    電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測試上應(yīng)用。

    磁性測量法及渦流測量法，隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微處理機(jī)技術(shù)后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。

    測量的分辨率已達(dá)0.1μm，精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用廣泛的儀器。

    采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。