本文件按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。

本文件是GB/T12604《無損檢測術(shù)語》的第10部分。GB/T12604已經(jīng)發(fā)布了以下部分：

——GB/T 12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測；

——GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測；

——GB/T12604.3無損檢測術(shù)語滲透檢測；

——GB/T 12604.4無損檢測術(shù)語聲發(fā)射檢測；術(shù)語磁粉檢測；

——GB/T 12604.5無損檢測術(shù)語渦流檢測；

——GB/T 12604.6無損檢測；

——GB/T 12604.7無損檢測術(shù)語泄漏檢測；

——GB/T 12604.8無損檢測術(shù)語中子檢測；

——GB/T 12604.9無損檢測術(shù)語紅外熱成像；

——GB/T12604.10無損檢測術(shù)語第10部分：磁記憶檢測；

———GB/T 12604.11無損檢測術(shù)語X射線數(shù)字成像檢測；

——GB/T12604.12無損檢測術(shù)語第12部分：工業(yè)射線計算機層析成像檢測；

——GB/T12604.13無損檢測術(shù)語第13部分：陣列超聲檢測。

本文件代替GB/T12604.10-2011《無損檢測術(shù)語磁記憶檢測》，與GB/T12604.10-2011相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外，主要技術(shù)變化如下：

a)刪除了部分術(shù)語（見附錄A)；

b）增加了部分術(shù)語(見附錄B)；

c）更改了部分術(shù)語（見附錄C）。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。

本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC56)提出并歸口。

本文件起草單位：愛德森(廈門)電子有限公司、上海材料研究所有限公司、中國特種設(shè)備檢測研究院、中國科學(xué)院金屬研究所、國家能源集團科學(xué)技術(shù)研究院、南昌航空大學(xué)、中國鐵道科學(xué)研究院集團有限公司金屬及化學(xué)研究所、中國人民解放軍陸軍裝甲兵學(xué)院、清華大學(xué)、廈門大學(xué)。

本文件主要起草人：林俊明、沈功田、蔡桂喜、胡先龍、丁杰、宋凱、董世運、黃松嶺、黃鳳英、曾志偉、胡斌、戴永紅。

本文件于2011年首次發(fā)布，本次為第一次修訂。

無損檢測技術(shù)是人類工業(yè)化和社會發(fā)展不可或缺的重要工具，是產(chǎn)品質(zhì)量控制和保障設(shè)備設(shè)施安全運行的主要手段，其同時也對生產(chǎn)工藝進行反饋。無損檢測利用物質(zhì)的熱、力、聲、光、電和磁等特性，以不損害預(yù)期使用性能和可靠性的方式，探測、定位和測量材料與零部件中的缺陷或異常，評價其性能、組織和完整性。無損檢測的應(yīng)用涵蓋機械制造、化工、醫(yī)藥醫(yī)療、能源、交通、冶金、建筑、水利、海洋工程、兵器、航空、航天、核工業(yè)、衛(wèi)生食品、走私與反恐和公共安全等領(lǐng)域。

無損檢測的方法和技術(shù)眾多，應(yīng)用對象廣泛。

建立無損檢測各個方法和技術(shù)的基礎(chǔ)通用的術(shù)語，是國內(nèi)外各類無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化機構(gòu)開展無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化活動的首要任務(wù)。

GB/T12604《無損檢測術(shù)語》是指導(dǎo)我國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化活動的基礎(chǔ)性和通用性標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T12604《無損檢測術(shù)語》旨在確立普遍適用于無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化文件的術(shù)語，由十三個部分構(gòu)成。

——GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測。目的在于界定了超聲檢測的術(shù)語。

——GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測。目的在于界定了射線照相檢測的術(shù)語。

——GB/T12604.3無損檢測術(shù)語滲透檢測。目的在于界定了滲透檢測的術(shù)語。

——GB/T 12604.4無損檢測術(shù)語聲發(fā)射檢測。目的在于界定了聲發(fā)射檢測的術(shù)語。

——GB/T 12604,5無損檢測術(shù)語磁粉檢測。目的在于界定了磁粉檢測的術(shù)語。

——GB/T 12604.6無損檢測術(shù)語渦流檢測。目的在于界定了渦流檢測的術(shù)語。

——GB/T 12604,7無損檢測術(shù)語泄漏檢測。目的在于界定了泄漏檢測的術(shù)語。

——GB/T 12604.8術(shù)語中子檢測。目的在于界定了中子檢測的術(shù)語。

——GB/T 12604,9無損檢測無損檢測術(shù)語紅外熱成像。目的在于界定了紅外熱成像的術(shù)語。

——GB/T12604.10無損檢測術(shù)語第10部分：磁記憶檢測。目的在于界定了磁記憶檢測的術(shù)語。

——GB/T12604.11無損檢測術(shù)語X射線數(shù)字成像檢測。目的在于界定了X射線數(shù)字成像檢測的術(shù)語。

——GB/T12604.12無損檢測術(shù)語第12部分：工業(yè)射線計算機層析成像檢測。目的在于界定了工業(yè)射線計算機層析成像檢測的術(shù)語。

——GB/T12604.13無損檢測術(shù)語第13部分：陣列超聲檢測。目的在于界定了陣列超聲檢測的術(shù)語。

本文件是GB/T12604的第10部分，分別從通用、原理方法、儀器、傳感器、測量及應(yīng)用等方面對磁記憶檢測術(shù)語進行定義。

本次對GB/T12604.10的修訂，重點考慮了磁記憶檢測涵蓋的原理、儀器、傳感器、檢測工藝和方法等，明確了相關(guān)常用的術(shù)語和定義，使得在制定磁記憶檢測方法和產(chǎn)品文件時有據(jù)可依，從而發(fā)揮術(shù)語文件的基本通用的支撐功能，更好地促進無損檢測貿(mào)易、交流以及技術(shù)合作。

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