本文件按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。

本文件是GB/T26332《光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜》的第8部分。GB/T26332已經(jīng)發(fā)布了以下部分：

——第1部分：定義；

——第2部分：光學(xué)特性；

——第3部分：環(huán)境適應(yīng)性；

——第4部分：規(guī)定的試驗方法；

——第5部分：減反射膜基本要求；

——第6部分：反射膜基本要求；

——第7部分：中性分束膜基本要求；

——第8部分：激光光學(xué)薄膜基本要求。

本文件修改采用ISO9211-8：2018《光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜第8部分：激光光學(xué)薄膜的基本要求》。

本文件與ISO9211-8：2018的技術(shù)差異及其原因如下：

——在“術(shù)語和定義”的引導(dǎo)語中刪除了關(guān)于維護(hù)ISO和IEC的“標(biāo)準(zhǔn)化術(shù)語數(shù)據(jù)庫”內(nèi)容(見第3章)。因為我國的國家標(biāo)準(zhǔn)中不涉及維護(hù)ISO和IEC的“標(biāo)準(zhǔn)化術(shù)語數(shù)據(jù)庫”內(nèi)容，因此刪除該內(nèi)容；

——用規(guī)范性引用的GB/T26332.1-2018代替ISO9211-1（見第3章、第4章），GB/T26332.2-2015代替ISO9211-2（見第5章），以適應(yīng)我國的技術(shù)條件；

——因在文中引用到了具體試驗方法序號，用規(guī)范性引用的GB/T26332.3-2015代替ISO9211-3,GB/T 26332.4-2015代替 ISO 9211-4,GB/T 12085.2-2010代替ISO 9022-2,GB/T 16601.1-2017代替ISO21254-1,GB/T 16601.2-2017代替ISO21254-2,GB/T 37396.1-2019代替 ISO 11151-1:2015,GB/T 37396.2-2019代替ISO11151-2：2015，GB/T38245-2019代替ISO11551（見第8章），以適應(yīng)我國的技術(shù)條件。

本文件做了下列編輯性改動：

——表2~表6標(biāo)題中增加了波長范圍，避免上下表波長范圍有交叉；

——表2~表6中“參數(shù)/基本要求”內(nèi)容中各數(shù)值前加入不等式運算符號。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。

本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。

本文件由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC 103）歸口。

本文件起草單位：中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所、沈陽儀表科學(xué)研究院有限公司、同濟(jì)大學(xué)、浙江大學(xué)、中國科學(xué)院空天信息創(chuàng)新研究院、中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、中國兵器工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、張家港志辰光學(xué)技術(shù)有限公司、福建福晶科技股份有限公司。

本文件主要起草人：王鋒、李剛、金玉奇、鄧淞文、陰曉俊、高鵬、趙帥鋒、程鑫彬、章岳光、麻云鳳、趙元安、曲亦歆、葉小兵、陳秋華。

光學(xué)薄膜元件廣泛地應(yīng)用于與光學(xué)和光子學(xué)相關(guān)的各類科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域中，用于實現(xiàn)反射、分束、濾光等不同的光學(xué)功能，是光學(xué)系統(tǒng)中不可替代的重要組成部分。

隨著科技的不斷進(jìn)步，光學(xué)薄膜元件向著性能要求更高、需求種類更加多樣化的方向發(fā)展。因此有必要針對光學(xué)薄膜技術(shù)，專門制定一套技術(shù)內(nèi)容與國際接軌的國家標(biāo)準(zhǔn)。這既有利于推動我國光學(xué)薄膜行業(yè)規(guī)范有序發(fā)展，又能更好地促進(jìn)相關(guān)領(lǐng)域的貿(mào)易、交流和技術(shù)合作。GB/T26332《光學(xué)和光子學(xué)光學(xué)薄膜》就是在這種背景下起草制定的。GB/T26332采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO9211系列，擬由八個部分構(gòu)成：

——第1部分：定義。目的在于規(guī)范與光學(xué)薄膜相關(guān)的通用術(shù)語的技術(shù)表述。

——第2部分：光學(xué)特性。目的在于規(guī)范光學(xué)薄膜各類光譜特性的描述方式。

——第3部分：環(huán)境適應(yīng)性。目的在于確立考察光學(xué)薄膜元件環(huán)境適應(yīng)性所適用的環(huán)境試驗方法。

——第4部分：規(guī)定的試驗方法。目的在于補充規(guī)定幾種環(huán)境試驗方法的詳細(xì)技術(shù)要求，第3部分中引用了其中的試驗方法。

——第5部分：減反射膜基本要求。目的在于確立常用減反射膜的基本要求。

——第6部分：反射膜基本要求。目的在于確立常用金屬反射膜的基本要求。

——第7部分：中性分束膜基本要求。目的在于確立常用中性分束膜的基本要求。

——第8部分：激光光學(xué)薄膜基本要求。目的在于確立常用激光光學(xué)薄膜的基本要求。GB/T26332系列標(biāo)準(zhǔn)的前四個部分描述的是光學(xué)薄膜的通用規(guī)范，其余部分針對特定應(yīng)用方向的光學(xué)薄膜規(guī)定了基本的技術(shù)要求。

GB/T26332.8針對的是在激光光學(xué)系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用的激光薄膜。

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