石墨烯是近年來最熱的新材料之一，具有高載流子遷移率以及光透過率，其作為透明導電膜材料在電子、光子及光電設備領域的應用范圍十分廣泛。目前，國內企業(yè)已經批量生產了石墨烯薄膜基觸摸屏等終端產品，故而制定石墨烯薄膜性能(如透光性、導電性)測試標準對于指導和規(guī)范石墨烯薄膜行業(yè)的快速發(fā)展及其在光電等領域的應用具有極其重要的意義。
2017年，國家納米科學中心就成立了標準編制組，確定了標準的編制分工及制定項目計劃表。在中國科學院的主管下，起草組進行了大量的文獻調研，起草了《石墨烯薄膜的性能測試方法》，目前，該標準已經編制完成，正面向社會征求意見。
因標準是第一次起草，故而為確保其嚴謹性、科學性和適用性，起草組在遵照GB/T 1.1-2009《標準化工作導則 第1部分 標準的結構和編寫》的有關規(guī)定的基礎上，引用了GB/T 26074-2008《鍺單晶電阻率直流四探針測量方法》、GB/T 2410-2008《透明塑料透光率和霧度的測定》等標準法規(guī)。
標準的內容包括有范圍、規(guī)范性引用文件、術語和定義、原理、設備與標準物質、試樣準備和測試點選擇、測試步驟、結果計算、測試精度、檢測報告等，規(guī)定了在常溫常壓大氣環(huán)境下使用直排四探針法測量石墨烯薄膜方塊電阻的方法、原子力顯微術測定石墨烯薄膜厚度的方法、吸收光譜法測量石墨烯薄膜試樣透光性的方法以及石墨烯薄膜的霧度測試方法。
閱讀《石墨烯薄膜的性能測試方法》征求意見稿后可知，四探針測量薄膜電阻率的方法是等間距直線排列的四探針垂直壓在橫向尺寸無窮大的薄膜試樣表面;測量厚度的方法是在平整的基底上，使用原子力顯微鏡掃描石墨烯薄膜測量表面形貌，而薄膜邊緣處，則是用原子力顯微鏡掃描薄膜與基底之間的臺階獲得臺階的;透光率測試方法是使用紫外-可見-近紅外分光光度計對石墨烯薄膜試樣進行測試，得到各個波長點的透光率數據。
本標準的實施能為石墨烯薄膜產品更廣泛的生產、銷售、檢驗提供重要依據，相信隨著石墨烯薄膜材料的進一步普及和推廣，也將促進石墨烯行業(yè)產生良好的經濟效益和社會效益。
7
449717568