標準是促進技術(shù)進步，改善產(chǎn)品質(zhì)量，規(guī)范社會市場秩序的重要手段，已上升至民族工業(yè)的制高點。長期以來，標準作為國際交往的技術(shù)語言和國際貿(mào)易的技術(shù)依據(jù)，在保障產(chǎn)品質(zhì)量、提高市場信任度、促進商品流通、維護公平競爭等方面發(fā)揮了重要作用。如今，我國正加快國家標準的制修工作，保障行業(yè)更好地發(fā)展。
國家標準的不斷更替說明了我國行業(yè)發(fā)展的腳步日益加快，這得益于新興產(chǎn)業(yè)的崛起和新技術(shù)的推出。面對固有標準法則不再適用現(xiàn)下需求的境況，為更好的促進行業(yè)規(guī)范發(fā)展，提高產(chǎn)品質(zhì)量，推出新標已然成為當務(wù)之急。
近日，國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、國家標準化管理委員會批準《半導體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法》等20項國家標準，并予以公布。其中，涉及多項儀器儀表測試方法。包括電壓調(diào)整器測試方法、噪音源測試方法、微波電路 壓控振蕩器測試方法等。
合理、規(guī)范的國家標準將有利于儀器儀表行業(yè)更好地發(fā)展壯大，便于我國的儀器研發(fā)團隊在現(xiàn)有儀器標準的基礎(chǔ)上，開發(fā)更便捷快速的零部件，提升儀器的技術(shù)含量。同時對我國儀器制造商業(yè)有了明確的規(guī)范，對儀器測量的精度和準度作出了更高的要求，這將有助于我國分析儀器更好的得到長足發(fā)展。
此次，《半導體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法》等20項國家標準發(fā)布，對相關(guān)儀器儀表的測試辦法進行制修訂。這對我國儀器儀表行業(yè)的發(fā)展而言百利而無一害，與此同時，對相關(guān)的儀器商而言，也為企業(yè)日后的發(fā)展指明了方向，意義十分重大。
序號 | 國家標準編號 | 國 家 標 準 名 稱 | 代替標準號 | 實施日期 |
1 | GB/T 4377-2018 | 半導體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法 | GB/T 4377-1996 | 2018-08-01 |
2 | GB/T 14028-2018 | 半導體集成電路 模擬開關(guān)測試方法 | GB/T 14028-1992 | 2018-08-01 |
3 | GB/T 35001-2018 | 微波電路 噪聲源測試方法 | 2018-08-01 | |
4 | GB/T 35002-2018 | 微波電路 頻率源測試方法 | 2018-08-01 | |
5 | GB/T 35003-2018 | 非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法 | 2018-08-01 | |
6 | GB/T 35004-2018 | 數(shù)字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規(guī)范 | 2018-08-01 | |
7 | GB/T 35005-2018 | 集成電路倒裝焊試驗方法 | 2018-08-01 | |
8 | GB/T 35006-2018 | 半導體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測試方法 | 2018-08-01 | |
9 | GB/T 35007-2018 | 半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 | 2018-08-01 | |
10 | GB/T 35008-2018 | 串行NOR型快閃存儲器接口規(guī)范 | 2018-08-01 | |
11 | GB/T 35009-2018 | 串行NAND型快閃存儲器接口規(guī)范 | 2018-08-01 | |
12 | GB/T 35010.1-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第1部分：采購和使用要求 | 2018-08-01 | |
13 | GB/T 35010.2-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第2部分：數(shù)據(jù)交換格式 | 2018-08-01 | |
14 | GB/T 35010.3-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第3部分：操作、包裝和貯存指南 | 2018-08-01 | |
15 | GB/T 35010.4-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第4部分：芯片使用者和供應(yīng)商要求 | 2018-08-01 | |
16 | GB/T 35010.5-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第5部分：電學仿真要求 | 2018-08-01 | |
17 | GB/T 35010.6-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第6部分：熱仿真要求 | 2018-08-01 | |
18 | GB/T 35010.7-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第7部分：數(shù)據(jù)交換的XML格式 | 2018-08-01 | |
19 | GB/T 35010.8-2018 | 半導體芯片產(chǎn)品 第8部分：數(shù)據(jù)交換的EXPRESS格式 | 2018-08-01 | |
20 | GB/T 35011-2018 | 微波電路 壓控振蕩器測試方法 | 2018-08-01 |
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