溫馨提示:山東省質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)新舊資質(zhì)過(guò)渡 [詳細(xì)]
本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T 1.1-2009 給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)代替 GB/T 6040-2002《紅外光譜分析方法通則》。本標(biāo)準(zhǔn)與 GB/T 6040-2002 相比主要技術(shù)變化如下:
——修改了標(biāo)準(zhǔn)的波數(shù)適用范圍(見(jiàn)第1章,2002年版的第1章);
——術(shù)語(yǔ)定義部分增加了吸光率、基線、基頻峰、倍頻峰、合頻峰、傅立葉退卷積、鏡面發(fā)射法(見(jiàn)第3章,2002年版的第3章);
——修改了儀器概要內(nèi)容及示意圖(見(jiàn)4.1,2002年版的第1章);
——儀器結(jié)構(gòu)部分增加了光闌,刪除了數(shù)據(jù)處理劑顯示記錄(見(jiàn)4.2,2002年版的4.2);
——附屬裝置增加了變壓池、樣品穿梭器、掠角反射附件、光纖探頭,將ATR附件進(jìn)行分類(lèi)(見(jiàn)4.3,2002年版的4.3);
——附加功能部分增加了歸一化處理、峰高計(jì)算、加譜計(jì)算、乘譜計(jì)算、K-M變換(見(jiàn)4.4,2002年版的4.4);
——固體樣品制備方法中增加了漿糊法和浸反射法(見(jiàn)5.2,2002年版的5.2);
——?jiǎng)h除了粉末樣品制備方法(見(jiàn)2002年版的5.3);
——重新描述氣體樣品制備方法(見(jiàn)5.4,2002年版的5.5);
——修改儀器安裝條件(見(jiàn)6.1,2002年版的6.6);
——修改透射率為0%的物質(zhì)的波數(shù)適用范圍(見(jiàn)6.3.3,2002年版的6.3.2);
——修改定性分析的注意事項(xiàng)(見(jiàn)7.2,2002年版的7.2);
——修改定量分析的方法(見(jiàn)8.2,2002年版的8.2).