由根據(jù)國家市場監(jiān)督管理總局辦公廳市監(jiān)計量(2020)38號文件《市場監(jiān)管總局辦公廳關(guān)于下達(dá)2020年國家計量技術(shù)規(guī)范制定、修訂及宣貫計劃的通知》工作安排,《測量設(shè)備校準(zhǔn)間隔的確定導(dǎo)則》國家計量技術(shù)規(guī)范由全國法制計量管理計量技術(shù)委員會歸口,已經(jīng)完成了征求意見稿,現(xiàn)在面向全國公開充分征求意見??上螺d征求意見稿相關(guān)材料,填寫意見回執(zhí)表,請您提出寶貴意見(請?zhí)顚懺谝庖姳碇?,于2020年9月2日前將意見反饋給起草人郵箱。
節(jié)選該標(biāo)準(zhǔn)部分內(nèi)容:
本技術(shù)規(guī)范目的是為實驗室在建立校準(zhǔn)體系時,為確定測量設(shè)備的校準(zhǔn)間隔提供指導(dǎo)。本規(guī)范亦適用于使用測量設(shè)備的其他合格評定機(jī)構(gòu)(如檢驗機(jī)構(gòu)和認(rèn)證機(jī)構(gòu))及其他團(tuán)體(如制造商)。
保持實驗室測量結(jié)果可追溯性和可靠性的一個重要方面是確定所使用的測量設(shè)備在連續(xù)校準(zhǔn)(重新校準(zhǔn))之間應(yīng)允許的最大周期。各種有關(guān)測量活動的國際標(biāo)準(zhǔn)都考慮到了這一點(diǎn),如ISO/IEC 17025或ISO 15189。此外,適用于合格評定機(jī)構(gòu)和其他運(yùn)營方的國際標(biāo)準(zhǔn)中也包含這方面內(nèi)容,如ISO/IEC 17020、ISO/IEC 17043、ISO/IEC 17065、ISO 9001、ISO 10012、ISO 17034或ISO 22870。
測量設(shè)備定期校準(zhǔn)的目的
a) 在實際使用測量設(shè)備時,改進(jìn)參考值與使用測量設(shè)備獲得值之間的偏差以及對該偏差的不確定度的估計;
b) 驗證測量設(shè)備所能達(dá)到的較佳不確定度;
c) 確認(rèn)測量設(shè)備是否發(fā)生了變化,該變化可能會導(dǎo)致對過去一段時間內(nèi)所出具的測量結(jié)果產(chǎn)生懷疑。
影響校準(zhǔn)間隔的因素
校準(zhǔn)時間和校準(zhǔn)間隔的確定是校準(zhǔn)工作的重要組成部分。影響校準(zhǔn)間隔的因素很多,實驗室應(yīng)該考慮這些因素。
當(dāng)在以下(但不限于)條件下進(jìn)行校準(zhǔn)時,校準(zhǔn)結(jié)果數(shù)據(jù)可用于重新確定校準(zhǔn)間隔:
a) 已通過同行評審的國家計量院及其指定機(jī)構(gòu)提供的校準(zhǔn)和測量能力。該同行評審是在國際計量委員會相互承認(rèn)協(xié)議(CIPM MRA)下實施的。
b) 經(jīng)簽署國際實驗室認(rèn)可合作組織(ILAC)協(xié)議或ILAC承認(rèn)的區(qū)域協(xié)議的認(rèn)可機(jī)構(gòu)認(rèn)可的能夠證明其具有計量溯源性的校準(zhǔn)和測量能力。
初始確定因素
初始校準(zhǔn)間隔的確定主要取決于(但不限于)以下因素:
a)實驗室需要或聲明的測量不確定度;對測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度要求高的,可適當(dāng)縮短校準(zhǔn)周期。應(yīng)根據(jù)實際情況決定所需設(shè)備的準(zhǔn)確度等級,不應(yīng)盲目追求高的準(zhǔn)確度;
b)測量設(shè)備在使用時超過最大允許誤差所帶來的風(fēng)險;
c)風(fēng)險評估分析,例如: 測量設(shè)備如果因校準(zhǔn)間隔不正確造成超出校準(zhǔn)期限(無法追溯)或測量設(shè)備發(fā)生顯著漂移而導(dǎo)致的后果;
d)測量設(shè)備的類型及其內(nèi)部組件;若測量設(shè)備具有較好的長期穩(wěn)定性和可靠性,可適當(dāng)延長校準(zhǔn)間隔,反之,則應(yīng)縮短校準(zhǔn)間隔。
e)制造商關(guān)于測量設(shè)備的建議(當(dāng)實驗室要求或聲明的不確定度是基于測量設(shè)備的準(zhǔn)確度時,制造商的建議);
f)磨損和漂移的趨勢;
g)預(yù)期的使用范圍和嚴(yán)酷程度;測量儀器預(yù)期使用的頻繁程度,使用頻繁的測量儀器,其計量性能容易降低,可以考慮縮短校準(zhǔn)周期;
h)測量設(shè)備對檢測、測量或校準(zhǔn)結(jié)果的影響程度;測量設(shè)備的數(shù)據(jù)對產(chǎn)品質(zhì)量有較大影響的,校準(zhǔn)間隔應(yīng)適當(dāng)縮短;
i)環(huán)境條件(氣候條件、振動、電離輻射等);
j)被測量的影響(如高溫對熱電偶的影響);
k)相同或類似設(shè)備匯總或已發(fā)布的測量數(shù)據(jù);
l)與其他參考標(biāo)準(zhǔn)或測量儀器進(jìn)行互相核查的頻率;
m)期間核查的頻率、質(zhì)量和結(jié)果;
n)運(yùn)輸安排和風(fēng)險;
o)操作人員培訓(xùn)及其執(zhí)行既定程序的程度。
p)法律要求。
控制圖法 (方法2)
控制圖是質(zhì)量控制統(tǒng)計學(xué)(SQC)重要的工具之一。其工作原理如下:選擇有代表性的校準(zhǔn)點(diǎn),將其校準(zhǔn)結(jié)果按時間繪制成曲線圖。從這些曲線圖中可以計算出結(jié)果的離散度和儀器的漂移量。儀器的漂移量通常是在一個校準(zhǔn)間隔內(nèi)的平均漂移,對于非常穩(wěn)定的測量設(shè)備,也可以是幾個校準(zhǔn)間隔內(nèi)的漂移。根據(jù)這些數(shù)據(jù),可以計算出較佳間隔。
在開始計算之前,需要對測量設(shè)備性能的變化規(guī)律有一定了解。同樣,很難在風(fēng)險和成本之間實現(xiàn)平衡。校準(zhǔn)間隔可能與事先規(guī)定的校準(zhǔn)間隔有較大變化,但不會使計算失效,因為通過可靠性計算,至少在理論上給出了有效的校準(zhǔn)間隔。此外,計算結(jié)果的離散度可以表明制造商規(guī)定的誤差限是否合理,對測量設(shè)備漂移的分析也有助于發(fā)現(xiàn)漂移的原因。
注:本方法不適用于無儀器漂移的測量設(shè)備的校準(zhǔn)。本方法適用于具有單一指定量值的實物量具,如量塊或標(biāo)準(zhǔn)電阻的校準(zhǔn)。